武汉精测电子申请基于空间调制的光谱共焦三维测量方法专利,显著提高扫描精度

金融界2025年8月19日消息,国家知识产权局信息显示,武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司申请一项名为“基于空间调制的光谱共焦三维测量方法”的专利,公开号CN120506903A,申请日期为2025年06月。

专利摘要显示,本发明公开了一种基于空间调制的光谱共焦三维测量方法,该方法包括:接收光源入射的光,以第一扫描次序控制光空间调制单元的光调节开关,光调节开关在光空间调制单元具有阵列排布结构,以此,光源入射的光在光空间调制单元的不同位置被反射,在每个扫描次序控制下,被反射的光经过色散分光以实现不同波长的分布在待测样本表面的法线方向的不同位置,实现待测量样本表面的三维测量。

天眼查资料显示,武汉精测电子集团股份有限公司,成立于2006年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本27974.3151万人民币。通过天眼查大数据分析,武汉精测电子集团股份有限公司共对外投资了24家企业,参与招投标项目548次,财产线索方面有商标信息10条,专利信息2052条,此外企业还拥有行政许可5个。

武汉精立电子技术有限公司,成立于2013年,位于武汉市,是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本26645万人民币。通过天眼查大数据分析,武汉精立电子技术有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目94次,财产线索方面有商标信息6条,专利信息1116条,此外企业还拥有行政许可26个。

本文源自金融界

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